Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

463 Páginas · 1986 · 21.84 MB · inglés
by Dale E. Newbury & David C. Joy & Patrick Echlin & Charles E. Fiori & Joseph I. Goldstein (auth.)
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“ Ayer era inteligente, por lo que quería cambiar el mundo. Hoy soy sabio, por lo que me quiero cambiar a mi mismo. ” ― Rumi
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